Метрологія, стандартизація та сертифікація
Спеціальність: Мікро- та наносистемна техніка
Код дисципліни: 6.153.03.O.12
Кількість кредитів: 6.00
Кафедра: Напівпровідникова електроніка
Лектор: Логуш Олег Іларійович, старший викладач
Семестр: 2 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання: Відповідно до освітньої програми у результаті вивчення навчальної дисципліни
здобувач освіти повинен продемонструвати такі програмні результати навчання: бути здатним
застосовувати знання принципів дії пристроїв та систем мікро- та ноносистемної техніки при їхньому
проектуванні та експлуатації. Знати і розуміти фізичні, хімічні закони та явища, які лежать в основі
технологічних процесів спеціальності, володіти знаннями методів та засобів контролю їх параметрів.
Досліджувати характеристики технологічних процесів, параметри матеріалів та приладів мікро- і
наносистемної техніки з урахуванням цілей дослідження, вимог та специфіки вибраних технічних засобів.
Навички використання інформаційних та комунікаційних технологій для опрацювання результатів
вимірювань).
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни: Пререквізити: - Вища математика
ч.1, 2, 3; - Фізика ч.1, 2, 3; - Інженерне програмування.
Короткий зміст навчальної програми: Навчальна дисципліна за своїм змістом охоплює найбільш
поширені методики та засоби вимірюваннями в області мікро- та наносистемної техніки, вивчення будови
і принципу дії вимірювальних приладів, обробки і подання отриманих результатів, досягнення необхідної
точності, основ стандартизації, сертифікації та підвищення якості.
Методи та критерії оцінювання: - поточний контроль (письмові звіти з лабораторних робіт, усне
опитування), 30 %; - екзамен (письмово-усна форма), 70%.
Рекомендована література: 1. Дорожовець М., Мотало В., Стадник Б. та ін. Основи метрології та
вимірювальної техніки. У 2-х томах. – Львів: Вид-во НУ «Львівська політехніка». – 2005. T.1 – 532 c. T.2 –
656 c. 2. Бичківський Р.В., Столярчук П.Г., Гамула П.Р. Метрологія, стандартизація, управління якістю і
сертифікація: — Львів: Видавництво Національного ун-ту Львівська політехніка, 2002. – 560 с.
Метрологія, стандартизація та сертифікація
Спеціальність: Мікро- та наносистемна техніка
Код дисципліни: 6.153.00.O.013
Кількість кредитів: 6.00
Кафедра: Електронна інженерія
Лектор: Д.т.н., проф. Вороняк Тарас Іванович
Семестр: 2 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання: У результаті вивчення модуля студенти будуть:
• знати основні методики вимірювання електричних та неелектричних величин;
• знати методи обробки і подання результатів вимірювання;
• знати будову і принципи роботи засобів вимірювань;
• знати основні стандарти в області електроніки, автоматизації та приладобудування.
• вміти розраховувати значення фізичних величин за результатами вимірювань;
• вміти розраховувати похибки результатів прямих і непрямих вимірювань.
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни: • математичний аналіз,
• теорія ймовірності, фізика,
• теорія електричних кіл.
Короткий зміст навчальної програми: Термінологія та стандартизація методів і засобів вимірювання. Системи одиниць фізичних величин, еталони одиниць. Похибки вимірювань. Методи обробки результатів вимірювання та оцінки їх достовірності і точності. Метрологічні характеристики засобів вимірювання, нормування метрологічних характеристик. Державний метрологічний контроль і нагляд. Прилади та пристрої для вимірювання електричних і магнітних величин. Методи і засоби вимірювання неелектричних величин. Стандартизація та сертифікація в електроніці.
Методи та критерії оцінювання: • поточний контроль (30%): письмові звіти з лабораторних робіт, усне опитування;
• підсумковий контроль (70%): контрольний захід, екзамен (письмово-усна форма).
Рекомендована література: 1. Дорожовець М., Мотало В., Стадник Б. та ін. Основи метрології та вимірювальної техніки. У 2-х томах. – Львів: Вид-во НУ «Львівська політехніка». – 2005. T.1 – 532 c. T.2 – 656 c.
2. Бичківський Р.В., Столярчук П.Г., Гамула П.Р. Метрологія, стандартизація, управління якістю і сертифікація: — Львів: Видавництво Національного ун-ту Львівська політехніка, 2002. – 560 с.