Методи досліджень у прикладній фізиці та наноматеріалознавстві
Спеціальність: Прикладна фізика та наноматеріали
Код дисципліни: 8.105.00.O.003
Кількість кредитів: 3.00
Кафедра: Прикладна фізика і наноматеріалознавство
Лектор: кандидат технічних наук, доцент Кондир А.І.
Семестр: 1 семестр
Форма навчання: денна
Результати навчання: 1. Здатність продемонструвати систематичні знання сучасних методів проведення досліджень в області прикладної фізики та наноматеріалів.
2. Здатність продемонструвати поглиблені знання у вибраній області наукових досліджень.
3. Ефективно працювати як індивідуально, так і у складі команди.
4. Оцінювати доцільність та можливість застосування нових методів і технологій в задачах синтезу наноматеріалів та розв’язанні задач прикладної фізики.
5.Уміння ефективно спілкуватись на професійному та соціальному рівнях.
6. Уміння представляти та обговорювати отримані результати та здійснювати трансфер набутих знань з проведення досліджень будови, властивостей та застосування функціональних матеріалів нового покоління.
7.Здатність самостійно проводити наукові дослідження у галузі фізики функціональних матеріалів і приймати рішення.
8. Здатність усвідомлювати необхідність навчання впродовж усього життя з метою поглиблення набутих та здобуття нових фахових знань з фізики новітніх матеріалів та методів їхнього дослідження.
Необхідні обов'язкові попередні та супутні навчальні дисципліни: Попередні навчальні дисципліни:
1. Фізичне матеріалознавство
2. Фізика і технологія наносистем
3. Наноматеріалознавство
4. Фізика твердого тіла
Супутні і наступні навчальні дисципліни
1. Фізика супрамолекулярних структур та пристроїв
Короткий зміст навчальної програми: Дифракційні методи аналізу кристалічної структури: рентгенівський аналіз, електронографія, нейтронографія. Визначення складу, структури твердих тіл і концентраційних профілів за основними і домішковим компонентами методами електронної та іонної спектроскопії. Електронно-мікроскопічні методи дослідження: просвічувальна і растрова електронна мікроскопія. Аналіз поверхні сканувальними зондами – тунельна і атомно-силова мікроскопія.
Методи та критерії оцінювання: Поточний контроль (40%): усне опитування, виступи на семінарах, тести, колоквіум. - Підсумковий контроль (60%): виконання підсумкової контрольної роботи, залік.
Рекомендована література: 1. Ч. Пул, Ф. Оуэнс Нанотехнологии: Пер. с англ./Под ред. Ю. И. Головина. – М.: Техносфера, 2005. – 336 с
2. Спенс Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения: Пер. с англ. / Под ред. В.Н. Рожанского. – М.: Наука. Гл. ред. физ.-мат. лит.,1986. – 320 с.
3. Беккер Ю. Спектроскопия. Москва: Техносфера, 2009. – 528 c.
4. Вертц Дж., Болтон Дж. Теория и практические приложения метода ЭПР. М., Мир, 1975. – 552 c.
5. Weil J.A., Bolton J.R. Electron paramagnetic resonance. Elementary theory and practical applications. - Hoboken: Wiley, 2007. - 664 p.
6. Сущинский М.М. Комбинационное рассеяние света и строение веще-ства. – М.: Наука,1981. – 184 с.
7. Ferarro John. Introductory Raman Spectroscopy. – Academic press, 2003. – 434 pp.
8. SmithEwen, DentGeoffrey. Modern Raman Spectroscopy – A Practical Approach. – John Wiley & Sons, LTD, 2005. – 224 pp.