Виявлення дефектів на поверхнях матеріалів за розподіленими та інваріантними ознаками інтенсивності зображень
Автор: Віпшовський Юрій Андрійович
Кваліфікаційний рівень: магістр (ОНП)
Спеціальність: Інженерія програмного забезпечення (освітньо-наукова програма)
Інститут: Інститут комп'ютерних наук та інформаційних технологій
Форма навчання: денна
Навчальний рік: 2024-2025 н.р.
Мова захисту: українська
Анотація: Магістерська кваліфікаційна робота присвячена актуальному завданню автоматизованого виявлення дефектів на поверхнях металевих матеріалів. У роботі проведено аналіз існуючих підходів та методів комп’ютерного зору для виявлення дефектів, визначено їх переваги та недоліки. Запропоновано новий підхід, що ґрунтується на статистичних методах аналізу зображень, а саме використанні кумулятивних гістограм. Розроблено прототип програмної системи на мові програмування C# з використанням технології Windows Forms, яка дозволяє ефективно реалізувати запропонований метод та здійснювати його експериментальну перевірку. Проведено детальне дослідження ефективності роботи запропонованого алгоритму на зображеннях різних розмірів та складності, виявлено оптимальні параметри його роботи. Результати тестування показали високу точність виявлення дефектів (до 98% на зображеннях малого розміру та до 86% на великих зображеннях), а також хорошу здатність алгоритму до масштабування завдяки ефективному розпаралеленню. Отримані результати підтверджують перспективність застосування розробленого підходу у промисловості, що дозволить підвищити якість контролю матеріалів та знизити витрати, пов’язані з людським фактором. Ключові слова: виявлення дефектів, аналіз поверхні матеріалів, комп’ютерний зір, кумулятивні гістограми, статистичний аналіз, автоматизований контроль якості.